Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
Buyer
Friedrich-Schiller-Universität Jena
Value
Not provided
Published
24 Sept 2026
Closes
27 Oct 2026
Procurement details
Source
TED (EU)
Country
Germany (DE)
Procurement method
Open
Category
Goods
Contract starts
Not provided
Contract ends
Not provided
CPV classifications
38000000
Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)
Lots
Lot LOT-0001 Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
Value not provided
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
Delivery: DEG03 · Germany
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Unlock document linkTED notice 657948-2026
24 Sept 2026
Tender notice · Web page
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