Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório...
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Buyer
Universidade de Aveiro
Value
€600,000
Published
6 Aug 2026
Closes
Not provided
Procurement details
Source
TED (EU)
Region
PT191
Procurement method
Open
Category
Goods
Contract starts
Not provided
Contract ends
Not provided
CPV classifications
38511100
Scanning electron microscopes
Lots
Lot LOT-0000 Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM...
€600,000
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Delivery: União das Freguesias de Glória e Vera Cruz · PT191 · Portugal
Documents
Unlock document linkTED notice 544884-2026
6 Aug 2026
Award notice · Web page
Contains information from TED (Tenders Electronic Daily), © European Union, reused under CC BY 4.0.