fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottica avanzata e softwar...
fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottica avanzata e software unificato di gestione e analisi dati, da installarsi presso il locale 2i35 delledificio U3-BIOS dellUniversità degli Studi di Milano - Bicocca
Buyer
Area Approvvigionamenti Beni e Servizi - Settore Gare Beni e Servizi: Ufficio Gare, Ufficio Procedure Negoziate
Value
Not provided
Published
12 Oct 2026
Closes
Not provided
Procurement details
Source
TED (EU)
Country
Italy (IT)
Procurement method
Limited
Category
Goods
Contract starts
6 Sept 2026
Contract ends
6 Sept 2027
CPV classifications
38510000
Microscopes
Lots
Lot LOT-0001 fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottic...
€989,990
fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottica avanzata e software unificato di gestione e analisi dati, da installarsi presso il locale 2i35 delledificio U3-BIOS dellUniversità degli Studi di Milano - Bicocca
Delivery: MILANO (MI) · ITC4C · Italy
Documents
Unlock document linkTED notice 705261-2026
13 Oct 2026
Award notice · Web page
Contains information from TED (Tenders Electronic Daily), © European Union, reused under CC BY 4.0.