Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
Beschaffung eines halbautomatischen Wafer-Probersystems einschließlich eines integrierten Charakterisierungssystems zur elektrischen Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals.
Buyer
IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Value
Not provided
Published
30 Jul 2026
Closes
31 Aug 2026
Procurement details
Source
TED (EU)
Country
Germany (DE)
Procurement method
Open
Category
Goods
Contract starts
Not provided
Contract ends
Not provided
CPV classifications
38000000
Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)
Lots
Lot LOT-0001 Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
Value not provided
Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung eines betriebsbereiten halbautomatischen Wafer-Probersystems mit integriertem Charakterisierungssystem. Das Gesamtsystem muss für DC-I/V-, C-V-, C-f-, C-t- sowie Niederfrequenz-Impedanzmessungen bis 10 MHz geeignet sein und als vollständig integrierte Einheit geliefert, installiert, in Betrieb genommen und einschl...
Delivery: Frankfurt (Oder) · DE403 · Germany
Documents
Unlock document linkTED notice 528678-2026
30 Jul 2026
Tender notice · Web page
Procurement documents
Not provided
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Contains information from TED (Tenders Electronic Daily), © European Union, reused under CC BY 4.0.